Texas Instruments
页
Texas Instruments
类型: 公司/机构 | 引用论文数: 13
相关论文
- 使用片上PLL优化跳变故障测试向量生成及其对压缩技术的影响 - DFTCMax模块化实现：确保低面积开销与高测试质量 - 应对全芯片功耗感知功能验证的挑战——基于MVSIM的解决方案 - SoC门级仿真（GLS）周期缩减——仿真流程加速器 - 基于ICC相对布局的流程实现45nm大型IP核最佳面积与频率 - 使用IC Compiler进行45nm高性能处理器设计 - 使用基于时序余量的动态桥接故障模型检测高阻桥接缺陷 - 利用形式等价方法实现快速精确的功耗估计 - 基于Slack的动态桥接故障模型检测高阻桥接缺陷 - 使用IC Compiler设计45nm高性能处理器 - 虚拟现实用于调制解调器软件开发——实现2.5G无线通信的流片前软件开发与验证 - 使用SpyGlass进行早期RTL可测试性和ATPG覆盖率分析：案例研究 - 使用 SpyGlass 进行早期 RTL 可测试性与 ATPG 覆盖率分析：案例研究